Leitung

Prof. Dr. Alfred Krabbe

Technical Advisor

Prof. Dr.-Ing. Jörg Wagner

Deputy SMO Director (Kalifornien)

Dr. Hans Zinnecker

Geschäftsleitung

Dr. Thomas Keilig

Bildungs- und Öffentlichkeitsarbeit

Dr. Dörte Mehlert

Deutsches SOFIA Institut
Pfaffenwaldring 29
70569 Stuttgart

Tel. +49 (0)711/685-62375
Fax +49 (0)711/685-63596

 


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First Generation Instrumente

Neun Instrumente gehören zu der "first-light"-Generation, der ersten Betriebsphase von SOFIA. In der Tabelle werden die Instrumente vorgestellt. AUf den jeweiligen Instrumentenseiten und bei den beteiligten Instituten erfahren Sie mehr über die Geräte. Bitte laden Sie sich bei Interesse auch die englischsprachigen Informationsblätter (PDF-Format) herunter.

Name PI Institut

Instrument
Typ: Wellenlänge: Kategorie(*): Info:
HAWC D.A. Harper Universität von Chicago Fern-Infrarot (FIR) Bolometer-Kamera 40 - 300 μm GA
FORCAST T. Herter Cornell Universität Kamera im mittleren Infrarot (MIR) 5 - 28 μm GA
FLITECAM I. McLean UCLA Testkamera im nahen Infraroten (NIR) 1 - 5 μm GA
FIFI LS A. Poglitsch MPE, Garching Abbildendes Linien-
Spektrometer im Fern-Infraroten (FIR)		 40 - 350 μm PI
GREAT R. Güsten MPIfR
KOSMA
DLR		 Heterodyn-Spektrometer 75 -250 μm PI
EXES J. Lacy Universität von Texas Echelon-Spektrometer 5 - 28 μm PI
CASIMIR J. Zmuidzinas Caltech Heterodyn-Spektrometer 250 - 600 μm PI
SAFIRE H. Moseley NASA - GSFC Abbildendes Fabry-Perot-
Bolometer-Array-Spektrometer		 145 - 655 μm PI
HIPO E. Dunham Lowell Observatory Abbildendes Photometer 0,3 - 1,1 μm SA

(*) GA - Grundausstattung; PI - Principal Investigator; SA - Spezielle Aufgaben